:: جلد 4، شماره 56 - ( فصلنامه سرامیک ایران 1397 ) ::
جلد 4 شماره 56 صفحات 25-28 برگشت به فهرست نسخه ها
مطالعه توپوگرافی و خواص ساختاری لایه‌های آمورف کربن نیکل با توزیع‌های متفاوت فلزی
ولی دلوجی، نسترن آساره
دانشگاه ملایر ، dalouji@yahoo.com
چکیده:   (272 مشاهده)
در این مقاله خواص ساختاری لایه های آمورف کربن نیکل  ساخته شده از هدف­های گرافیتی با مقادیر مختلف نیکل از 87/1 تا 64/4 درصد مورد مطالعه قرار می گیرند. توپوگرافی در لایه­های انباشت شده در 78/1، 21/3 و 64/4 درصد دارای یک افت و خیزی حول  یک نانومتر ولی در لایه­های انباشت شده در 92/3 درصد دارای افت وخیزی حول 20 پیکومتر است.  لایه­های انباشت شده در 92/3  درصد دارای کمترین مقدار سد پتانسیل در حدود 00031/. الکترون ولت است. این لایه­ها همچنین دارای  کمترین مقدار اندازه عرضی نانوذرات در حدود 40 نانومتر هستند. انباشت لایه­ها دارای یک فرآیند گذار غیرفلز-فلز در 92/3 درصد است.
 
واژه‌های کلیدی: لایه‌های آمورف"، کربن نیکل، اشعه ایکس EDAX، کندوپاش مغناطیسی
متن کامل [PDF 543 kb]   (35 دریافت)    
نوع مطالعه: پژوهشي | موضوع مقاله: تخصصي
دریافت: ۱۳۹۷/۱۲/۲۱ | پذیرش: ۱۳۹۷/۱۲/۲۱ | انتشار: ۱۳۹۸/۲/۲۵


XML     Print



جلد 4، شماره 56 - ( فصلنامه سرامیک ایران 1397 ) برگشت به فهرست نسخه ها