جلد 14، شماره 4 - ( زمستان 1397 )
جلد 14 شماره 4 صفحات 28-25 |
برگشت به فهرست نسخه ها
دانشگاه ملایر ، dalouji@yahoo.com
چکیده: (4222 مشاهده)
در این مقاله خواص ساختاری لایه های آمورف کربن نیکل ساخته شده از هدفهای گرافیتی با مقادیر مختلف نیکل از 87/1 تا 64/4 درصد مورد مطالعه قرار می گیرند. توپوگرافی در لایههای انباشت شده در 78/1، 21/3 و 64/4 درصد دارای یک افت و خیزی حول یک نانومتر ولی در لایههای انباشت شده در 92/3 درصد دارای افت وخیزی حول 20 پیکومتر است. لایههای انباشت شده در 92/3 درصد دارای کمترین مقدار سد پتانسیل در حدود 00031/. الکترون ولت است. این لایهها همچنین دارای کمترین مقدار اندازه عرضی نانوذرات در حدود 40 نانومتر هستند. انباشت لایهها دارای یک فرآیند گذار غیرفلز-فلز در 92/3 درصد است.
نوع مطالعه: پژوهشي |
دریافت: 1397/10/21 | پذیرش: 1397/12/2
دریافت: 1397/10/21 | پذیرش: 1397/12/2
| بازنشر اطلاعات | |
 |
این مقاله تحت شرایط Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License قابل بازنشر است. |