fa مطالعه توپوگرافی و خواص ساختاری لایه‌های آمورف کربن نیکل با توزیع‌های متفاوت فلزی پژوهشي Research <span style="font-size:12px;"><span style="font-family:Tahoma;"><span style="color:black;">در این مقاله خواص ساختاری لایه های آمورف کربن نیکل </span>&nbsp;<span style="color:black;">ساخته شده از هدف&shy;های گرافیتی با مقادیر مختلف نیکل از 87/1 تا 64/4 درصد مورد مطالعه قرار می گیرند. توپوگرافی در لایه&shy;های انباشت شده در 78/1، 21/3 و 64/4 درصد دارای یک افت و خیزی حول&nbsp; یک نانومتر ولی در لایه&shy;های انباشت شده در 92/3 درصد دارای افت وخیزی حول 20 پیکومتر است.&nbsp; لایه&shy;های انباشت شده در 92/3 &nbsp;درصد دارای کمترین مقدار سد پتانسیل در حدود 00031/. الکترون ولت است. این لایه&shy;ها همچنین دارای&nbsp; کمترین مقدار اندازه عرضی نانوذرات در حدود 40 نانومتر هستند. انباشت لایه&shy;ها دارای یک فرآیند گذار غیرفلز-فلز در 92/3 درصد است. </span><br> &nbsp;</span></span> لایه‌های آمورف",, کربن نیکل, اشعه ایکس EDAX , کندوپاش مغناطیسی 25 28 http://jicers.ir/browse.php?a_code=A-10-340-1&slc_lang=fa&sid=1 ولی دلوجی dalouji@yahoo.com 10031947532846001621 10031947532846001621 Yes دانشگاه ملایر نسترن آساره nastaranasare@gmail.com 10031947532846001622 10031947532846001622 No دانشگاه ملایر