جلد 14، شماره 4 - ( زمستان 1397 )                   جلد 14 شماره 4 صفحات 28-25 | برگشت به فهرست نسخه ها

‎ 20.1001.1.17353351.1397.4.56.5.5

XML Print

Download citation:
BibTeX | RIS | EndNote | Medlars | ProCite | Reference Manager | RefWorks
Send citation to:
دلوجی ولی، آساره نسترن. مطالعه توپوگرافی و خواص ساختاری لایه‌های آمورف کربن نیکل با توزیع‌های متفاوت فلزی. فصلنامه سرامیک ایران. 1397; 14 (4) :25-28

URL: http://jicers.ir/article-1-265-fa.html

مطالعه توپوگرافی و خواص ساختاری لایه‌های آمورف کربن نیکل با توزیع‌های متفاوت فلزی
ولی دلوجی*، نسترن آساره
دانشگاه ملایر ، dalouji@yahoo.com
چکیده:   (5310 مشاهده)
در این مقاله خواص ساختاری لایه های آمورف کربن نیکل  ساخته شده از هدف­های گرافیتی با مقادیر مختلف نیکل از 87/1 تا 64/4 درصد مورد مطالعه قرار می گیرند. توپوگرافی در لایه­های انباشت شده در 78/1، 21/3 و 64/4 درصد دارای یک افت و خیزی حول  یک نانومتر ولی در لایه­های انباشت شده در 92/3 درصد دارای افت وخیزی حول 20 پیکومتر است.  لایه­های انباشت شده در 92/3  درصد دارای کمترین مقدار سد پتانسیل در حدود 00031/. الکترون ولت است. این لایه­ها همچنین دارای  کمترین مقدار اندازه عرضی نانوذرات در حدود 40 نانومتر هستند. انباشت لایه­ها دارای یک فرآیند گذار غیرفلز-فلز در 92/3 درصد است.
 
واژه‌های کلیدی: لایه‌های آمورف"، کربن نیکل، اشعه ایکس EDAX، کندوپاش مغناطیسی
متن کامل [PDF 543 kb]   (834 دریافت)    
نوع مطالعه: پژوهشي |
دریافت: 1397/10/21 | پذیرش: 1397/12/2
ارسال نظر درباره این مقاله : نام کاربری یا پست الکترونیک شما:
CAPTCHA
ارسال پیام به نویسنده مسئول

بازنشر اطلاعات
Creative Commons License این مقاله تحت شرایط Creative Commons Attribution-NonCommercial 4.0 International License قابل بازنشر است.